以色列Duma Optronics 公司成立于1989年，总部位于Nesher，专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。Duma聘请了光学设计，E-O系统，电子信号处理和计算机化成像方面的专家，其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面，应用覆盖工业，国防，安全等领域。DUMA的主要产品包括包括：
- 光束分析系统（Beam Profilers，M2 meter，Divergence meter）
- 光束定位
- 对准测量系统
- 电子自动准直仪
- 高功率激光光束分析
BeamOn U3光束分析仪
BeamOn U3适合多种用途。测量范围包括：光束宽度、光斑的形状、位置、功率、强度分布，软件还提供了报表功能，还可以测量激光的光束质量，M2值。是最新一代的光束轮廓诊断设备，其最大的特点是大口径、高分辨率、宽光谱，也称为CCD型光斑分析仪，激光测量仪。它的探测器CCD面积11x7mm（分辨率1920x1200），像素5.86x5.86μm，两百万像素宽光谱探测器，具有12位动态范围和350-1600 nm的光谱响应，附件齐全，具备与其匹配的运行程序。
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BeamOn 光束分析仪
以色列DUMA生产的Beamon光束分析仪主要满足用户对激光光斑轮廓，光斑位置，光斑大小，光斑能量分布以及质心位置的分析，同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能，包含Excel，World或文本格式导出，方便用户对检测数据进行二次处理。分为三种类型：CCD传感器光斑分析仪，CMOS传感器光斑分析仪以及运用刀口式分析（机械式）的光斑分析仪，可以实现检测连续激光（CW）或脉冲激光（Plused）的需求。BeamOn 光束分析仪波长范围覆盖190~1600nm，像素最小达到4.65x4.65μm，探测器面积最大可达58x45mm。
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微米光束分析仪
uBeam光束分析仪以用于实时测量和显示亚微米范围的连续或脉冲激光、光纤以及激光二极管的光束轮廓，主要是聚焦光斑，配合10倍到100倍物镜放大，实际像素可以变成0.4μm到0.04μm，可以测量小至0.5um的光束。因此也称为聚焦光斑测试仪。属于CCD型光束分析仪，其CCD面积3.2x2.4mm，波长范围350~1310nm，像素~4x4μm
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高分辨率光束分析仪
高分辨率光束分析仪灵敏度为5nW/cm2-60µW/mm2。该设备具有12位动态范围，可检测连续和脉冲激光光斑的位置、功率、高斯拟合、光强分布。高清晰度激光探测器具备更小的像素尺寸以及更多的像元数量，该设备的的CCD探测器有2种配置，一种是红外专用的1550nmCCD探测器，另一种是针对波长范围350-1310nm。
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大口径激光分析检测仪
大口径激光分析检测仪具有具有较高的灵敏度，在波长为633nm 时为0.1µW/cm²，同时它较宽的波长响应范围，350-1310nm ，BeamOn-LA大光束激光分析检测仪的重要特点是具有一个大面积的探测器，能够满足大光斑测量的需求，同时它具有较高的帧率也更利于实时监测和数据统计，最大可测量58x45mm的光斑激光。
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位置敏感探测器
海纳光学提供的PSD位置测量系统，包含位敏探测器，PSD读取器（可选），配套软件。PSD位敏探测系统尺寸小巧，软件功能丰富，可实时显示光束位置测量坐标及功率变化，通过USB连接，方便集成与二次开发。激光位置探测器主要用于各种对位置准确性要求特别高的场合，例如位置的精确移动，平台振动的检测等。激光位置探测器又称为激光位置敏感探测器或PSD位置敏感探测器。
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M2分析仪
M2分析仪整体可以实现220-2700nm波段的覆盖，其中脉冲激光可实现220-1600nm的波段覆盖。M2因子检测、准确度保持在±5％。采用刀口式分析的原理，可以实现连续激光（CW）的测量，特殊版本使用CMOS传感器实现脉冲激光的检测，可配置风冷采样器，实现高功率激光的测量，功率强度提升至4KW，同时实现25mm光束尺寸的接收。主要满足用户对光束质量，束腰位置，束腰直径，发散角，瑞利长度，腰部对称性以及像散的分析，同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能，包含Excel，World或文本格式导出，方便用户对检测数据进行二次处理。
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电子自动准直仪
DUMA公司的电子自动准直仪其强大的调节功能，十分适合用于各类光学装置和激光准直的应用中。电子自动准直仪的作用是监控记录光学装置的定位和角度，且精确快速的自动准直和较准对齐功能。目前分为3种型号：EAC-1012标准版自准直仪，EAC-1012-L带激光分析的激光自准直仪，EAC-1012-19-FO具有电动对焦功能的内调焦自准直仪。
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高精度自准直仪
高精度自准直仪是一款结合了自准直仪和准直望远镜系统的高精度自准直仪。相比于标准的自准直仪，lectronic Autocollimator HR的特点是精度高达0.1 sec，且在视场参数上，自动准直器：20’(H)(1200 sec of arc)，望远镜：40’(H)(2400 sec of arc)也远精确于标准的自准直仪。搭配入射孔径62mm的大口径，使EAC-HR适用于更精确，要求更高的准直应用和光学方案中。
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Lateral Offset Device横向偏移装置
Lateral Offset Device横向偏移装置用于完全消除两条光学瞄准线之间的偏移，完全保留了原始视线之间的平行性，标准+/- 3 arc sec，单片设计，LOD安装在一个同心双轴旋转装置上，能够沿着纵向和横向旋转 它为两条平行的点之间的偏移抵消提供了完美的解决方案。
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蓝牙激光测量仪
Alignmeter系列激光准直仪光谱响应范围能够测到350-1100nm，只能测量CW连续光，但是可以实时显示位置信息和角度偏差以及功率信息。目前，以色列DUMA Optronics具有两种不同接线的产品——无线激光准直仪Alignmeter WL和有线光束准直仪Alignmeter USB。
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BeamOn HR 1''高分辨率光斑分析仪
探测器CCD面积13x8mm（分辨率5496 x 3672），像素2.4μm x 2.4μm，两千万像素宽光谱光斑分析，具有16位动态范围和350-1600 nm的光谱响应，最多可测量长达1.6μm波长的光束，附件齐全，适合多种用途。测量范围包括：光束轮廓，功率，能量分布和位置。
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BeamOn LA U3光束轮廓分析仪
以色列DUMA在今年推出了BeamOn LA大孔径光斑分析仪的进阶款BeamOn LA U3光斑轮廓分析仪，它在拥有老款BeamOn LA的大面积的光斑探测基础上，提高了它的分辨率
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高分辨率手动自准直仪
动自准直仪EAC-1012-19XR，激光自动准直仪和电动自准直仪这是一款分辨率更好，帧率更高的新型产品型号,它可以监控，记录光学装置的角度和定位，同时提供精确快速的自动准直和较准对齐功能，也可实时测量激光光束的角度偏差。
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M2 FocusGage-BA光束分析仪
以色列DUMA生产的M2 FocusGage-BA光束质量分析仪采用刀口式分析的原理，能够满足用户对光束质量，束腰位置，束腰直径，发散角，瑞利长度，腰部对称性以及像散的分析
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BeamOn U3-E光斑轮廓仪
BeamOn U3-E光斑分析仪，CMOS相机成像原理，可测量光束轮廓，功率，能量分布和位置，它的探测器CMOS面积11.34 x6mm（分辨1936x1216），像素5.86μm x5.86μm
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BeamOn HR 4/3''光斑轮廓仪
作为新型产品，相比于BeamOn HR 1''，它具有350-1600nm，像素2.3μm x 2.3μm以及高达47MP的分辨率，能够测量25μm到12.5mm范围内的光束尺寸。
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BeamOn LA U3-E大孔径光斑分析仪
BeamOn LA U3-E光束轮廓分析仪用来代替BeamOn LA U3大孔径光斑分析仪，其中分辨率由1920 x 1200提高到了1936 x 1216，曝光由39 μsec-20 sec提升为32 μsec-2 sec。像素位深由12 bits升级到16 bits
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Duma宽波段光斑分析仪
Duma专利技术使用户能够查看小于激光束最大功率密度1%时候的特征。仪器可进行连续光和脉冲光光斑分析，可进行的光束分析的测量参数包括：光斑尺寸、光斑的形状、光束质心位置、光斑强度分布。软件提供了报告功能。
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BeamOn X光斑测量仪
BeamOn X光斑分析仪属于CMOS光斑分析仪，软件通过CMOS成像、处理，显示质心定位、光束轮廓、能量分布，同时经过处理得出光束尺寸、光斑椭圆度的参数值。在光斑光束分析仪中，BeamOn X光斑检测仪分辨率高达643万，是DUMA激光光斑分析仪中具有成本效益的一款设备。
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Duma大孔径激光自准直仪
Duma大孔径激光自准直仪Electronic Autocollimator LA100将准直、校准功能和光束分析功能融合在一起。
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Duma多光束激光自准直仪
激光自准直仪采用CMOS探测器，是分辨率为8200 x 5600的高分辨率激光自准直仪。多光束激光自准直仪可以同时进行多光束校准、强度分布曲线测量和偏移量测量。
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Electronic Autocollimator 1550nm激光自准直仪
Duma 1550 nm电子自准直仪将准直、校准功能和光束分析功能融合在一起，最大入射孔径42 mm，像素为2050 x 1400
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