Phasics波前分析仪以其无与伦比的高分辨率以及易用性在众多厂商中脱颖而出，由于Phasics的波前分析仪的应用领域涵盖了光束测试，自适应光学和等离子体表征。在高功率激光仪器中需要使用波前传感器的工程师和研究人员，Phasics的波前传感器能够为他们提供全面的服务。通过Phasics公司的独家技术：四波横向剪切干涉法，能够有效克服夏克-哈特曼波前探测器的局限性，尤其是该探测器的分辨率低的问题。Phasics波前分析仪具有超高的分辨率，能够实现精确的波前测量，从而可靠地计算光束参量。
所属品牌： Phasics
法国Phasics是一家波前分析仪生产厂家，为客户提供的各种自适应的光学系统。Phasics的波前传感器以其无与伦比的高分辨率以及易用性在众多厂商中脱颖而出，由于Phasics的波前分析仪的应用领域涵盖了光束测试，自适应光学和等离子体表征。在高功率激光仪器中需要使用波前传感器的工程师和研究人员，Phasics的波前传感器能够为他们提供全面的服务。
通过Phasics公司的独家技术：四波横向剪切干涉法，能够有效克服夏克-哈特曼波前探测器的局限性，尤其是该探测器的分辨率低的问题。Phasics的波前分析仪具有超高的分辨率，能够实现精确的波前测量，从而可靠地计算光束参量。
本文的产品主要有：适用于常用波段的SID4波前分析仪; 用于红外波段的型号：SID4 DWIR, SID4 LWIR, SID4-SWIR, SID4-NIR; 高分辨率的SID4 UV-HR, SID4-HR； 最后是深紫外波段的SID4-UV和SID4 UV-HR。所有的波段都能够有适合的产品为您提供，并且有高采样点的型号和普通标准的型号等。
法国Phasics波前分析仪主要应用：
-光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制
-激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数
-生物应用：蛋白质等组织定量相位成像
-自适应光学：焦斑优化，光束整形
-热成像分析，等离子体特征分析
-元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径
法国Phasics SID4 波前分析仪的特点：
SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，强度分布，波前位相、泽尼克参数, 激光的M2等进行实时的测量及参数输出。
-可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准，消色差：干涉和衍射对波长相消
-高动态范围：高达500μm
-波长范围：400-1100nm
-高分辨率：最多采样点可达120000个（160x120），测量稳定性高
-内部光栅横向剪切干涉，防震设计，无需隔震平台也可测试，对实验条件要求简单
SID4 UV-HR高分辨紫外波前分析仪的特点：
Phasics公司将 SID4的测量波长范围:190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前分析仪，非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。
-高分辨率（250x250）
-通光孔径大（8.0mmx8.0mm）
-覆盖紫外光谱
-灵敏度高（0.5um）
-优化信噪比
SID4-HR 波前分析仪特点：
能够进行对透镜、光学系统实时的PSF（点扩散函数）、OTF（光学传递函数）、MTF（调制传递函数）以及波前像差测量和参数输出。与传统的透镜检测设备比较：干涉仪，传函仪、具有测量精度高，操作简便，参数输出方便等优势。
-曝光时间极短,保证动态物体测量
-波长范围：400-1100nm
-实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）
-高性能的相机，信噪比高，操作简单
SID4 NIR 波前分析仪
其主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光进行检测的仪器，具有分辨率高，高动态范围、高灵敏度、操作简便等独特的优势。是红外透镜像差，光学测量和红外物体、MTF，PSF以及焦距和表面质量测量的理想工具。
-高分辨率（160x120）
-快速测量
-绝对测量
-对振动不敏感
-性价比高
SID4 UV 波前分析仪
其主要针对250-450nm激光进行检测的仪器，具有分辨率高，高动态范围、高灵敏度、操作简便等独特的优势。完美适用于UV光学测试，UV激光表征（用于光刻，半导体......）和表面检测（透镜和晶圆......）光学测量和MTF，PSF以及焦距测量。
-非常高的分辨率-250×250相位图
-高灵敏度 - 2 nm RMS
-经济实惠的紫外波前测量解决方案
SID4 DWIR/ SID4 LWIR/ SID4-SWIR波前分析仪
拥有宽波段波前探测的特点。实时的检测3-5um以及8-14um的强度分布和波前位相等的波前信息。可以很好的应用于红外波段应用的波前检测需求。
-光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。
-光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）此型号可以提供详尽的光束特性参数：M2，像差，光束特性，光强分布等
-可实现离轴测量，可实现绝对测量，性价比高
-高分辨率（96x72，快速测量 对振动不敏感
-可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜
法国Phasics波前分析仪参数规格对比
|
型号 |
UV |
SID4 V |
SID4 |
SID4-HR |
NIR |
SWIR |
SWIR-HR |
eSWIR |
DWIR |
LWIR |
|
光谱范围 |
250-400nm |
400-1100nm |
400-1100nm |
400-1100nm |
1.5-1.6μm |
0.9-1.7μm |
0.9-1.7μm |
1.0-2.35μm |
3-5μm & 8-14μm |
8-14μm |
|
孔径大小mm2 |
7.4x7.4 |
4.73x3.55 |
4.73x3.55 |
11.84x8.88 |
4.73x3.55 |
9.6x7.68 |
9.6x7.68 |
9.6x7.68 |
10.08x8.16 |
16x12 |
|
空间分辨率μm |
29.6 |
29.6 |
29.6 |
29.6 |
29.6 |
120 |
60 |
120 |
68 |
100 |
|
相位采样(像素) |
250x250 |
160x120 |
160x120 |
400x300 |
160x120 |
80x64 |
160x128 |
80x64 |
160x120 |
160x120 |
|
相位精度（nm RMS） |
10 |
15 |
10 |
15 |
15 |
15 |
15 |
<40 |
75 |
75 |
|
相位分辨率（nm RMS） |
2 |
2 |
2 |
2 |
11 |
2 |
2 |
<6 |
25 |
25 |
夏克哈特曼和四波横向剪切干涉波前分析仪对比表
|
|
Phasics剪切干涉 |
夏克哈特曼 |
区别 |
|
技术 |
四波侧向剪切干涉 |
夏克-哈特曼 |
PHASICS SID4是对夏克-哈特曼技术的改进，投放市场时，已经申请技术专利，全球售出超过500个探测器。 |
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重建方式 |
傅里叶变换 |
分区方法（直接数值积分）或模式法（多项式拟合） |
夏克-哈特曼波前探测器，以微透镜单元区域的平均值来近似。对于大孔径的透镜单元，可能会增加信号误差，在某些情况，产生严重影响。在分区方法中，边界条件很重要。 |
|
光强度 |
由于采用傅里叶变换方法，测量对强度变化不敏感 |
由于需要测量焦点位置，测量对强度变化灵敏 |
关于测量精度，波前测量不依赖于光强度水平 |
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使用、对准方便 |
界面直观，利用针孔进行对准 |
安装困难，需要精密的调节台 |
SID4 产品使用方便 |
|
取样（测量点） |
SID4-HR达300*400测量点 |
128*128测量点（微透镜阵列） |
SID4-HR具有很高的分辨率。这使得测量结果更可靠，也更稳定 |
|
数值孔径 |
SID4 HR NA：0.5 |
0.1 |
SID4-HR动态范围更高 |
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空间分辨率 |
29.6μm |
>100μm |
SID4-HR空间分辨率更好 |
|
灵敏度 |
2nmRMS |
约λ/100 |
SID4-HR具有更好的灵敏度 |
总体而言，在空间分辨率和灵敏度而言基于剪切干涉技术的波前分析仪都比夏克哈特曼为基础的波前分析仪要更为优秀。采样点更多，准确度更高分辨率也更高。安装便捷，配套的软件功能丰富。基于傅里叶变换，将时域转换为频域分析使得其不依赖光强变化，更加的敏感，但可能不能估计光强的变化。一定条件下，它是选择作为激光质量分析，透镜质量监控，光学表面测量，以及成像的更优选择。
SID4 DWIR中红外波前分析仪
PHASICS提供的SID4 DWIR中远红外波段波前测量方案，应用波段范围为3-5μm和8-14μm，拥有10.08 × 8.16 mm的大面积靶面尺寸，68 μm 像素大小，160 × 120 相位分辨率，50fps超快采样率，实时全分辨尺寸采样率最高可达10fps，可接受的最大直接入射NA大约为0.2。
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短波红外波前传感器SID4 SWIR HR
短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域，可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据
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SID4 HR波前传感器
SID4 HR波前分析仪，能够覆盖400-1100 nm的检测波段，具有超高的相位采样分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 um PV）。为波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）的测量提供了全新的方案。
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SID4紫外高分辨率波前像差仪
基于Phasics独特的SID4四波横向剪切干涉技术所开发的专利技术，紫外高分辨率波前分析仪设备可覆盖190-400 nm紫外检测波段，在紫外线光谱中提供了无与伦比的高分辨率（355x280测量点）和非常高的灵敏度（1 nm RMS）。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前探测、分析提供了全新方案。
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