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Phasics MTF测量仪

Phasics MTF测量仪

Phasics MTF测量仪可提供最完整的透镜特性:包括轴上和离轴的MTF以及多种波长的波前误差。受益于Phasics的专利技术,光学函数测量仪即使在大视野下也能提供准确的结果。MTF测量仪非常适合在设计,原型制作或生产阶段测量少量镜片。

所属品牌: Phasics

产品介绍

Phasics创新的解决方案可提供最完整的透镜特性:包括轴上和离轴的MTF以及多种波长的波前误差。 它受益于Phasics的专利技术,即使在大视野下也能提供准确的结果。Kaleo MTF仪器非常适合在设计,原型制作或生产阶段测量少量镜片。 生产操作员可以通过简单的逐步操作程序来使用它,也可以由研发工程师使用它来访问更多功能和设置。 一次采集即可提供全面的特性描述!


Kaleo Bench-iR介绍:

Phasics借助Kaleo Bench-iR系列掀起了红外光学质量控制领域的革命。 这些创新的工作台可在一口快速采集中同时提供MTF和波前质量(像差,WFE)。 它们涵盖了从1.2 µm14 µm的整个iR范围。 其独特的专利技术具有无与伦比的高分辨率和灵敏度,可确保准确表征,同时简化设置和调整。


Kaleo Bench-iR特点和功能:

-沿任何方向

-任何瞳孔大小

-轴上和轴外

-高达截止频率

-各种对焦方法

-EFL,F#NA

-畸变

-相位图的实时过滤

-色差

-任何瞳孔大小的TF MTF

-与设计比较


Kaleo MTF离轴透镜测试平台介绍:

Kaleo MTF离轴透镜测试平台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。 它还通过聚焦MTF,畸变,EFL等方式来测量像差(泽尼克系数)。依据镜头的出瞳参数,精确计算并测量透镜的离轴参数。 该工作台利用Phasics提供的最完整的质量控制技术,具有易用性和多功能性。


Kaleo MTF 离轴透镜测试平台特点

-400至1100nm6个波长

-在不同的方位角的测试

  -完全自动化


Kaleo-i MTF测量仪介绍:

Kaleo-i MTF测量仪可以表征人工晶状体的光学质量。 它满足生产线中符合ISO标准的测量要求。 它测量单焦点和多焦点人工晶状体(IOLMIOL)的MTF和屈光度。 利用PHASICS专利的波前传感器,可以从像差图推导出IOLMIOL设计的深入特征:功率图,聚焦MTF,方位角(2DMTF,表面检查。 在潮湿和干燥条件下,只需要一种仪器即可控制单焦点和多焦点镜片的质量。几秒钟内,即可确定大多数IOL参数(包括屈光度数,屈光度,MTF)。 测量结果高度可重复且准确。


Kaleo-i MTF测量仪的特点:

-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示

-单个镜头和批次自动报告

-专用试管和模型眼

-快速的计算机辅助对准(仅对中)


Phasics MTF测量仪产品介绍:

Phasics可提供最完整的透镜特性测试方案:离轴MTF和多种波长的波前误差。得益于Phasics专利技术,即使在大视野(FoV)时也可以提供准确的结果。Kaleo MTF测试仪非常适合测量少量物镜。操作员或研发工程师可以使用它来验证设计和原型阶段。 光学传递函数测量仪可通过一次采集即可提供完整的测试参数输出。

市场:汽车行业| ADAS | 监视和安全| 无人机| 移动电话


Phasics MTF测量仪的特点:

-单次测量,MTF测量高达截止频率,精度类似于干涉测量法

-高品质的准直光源,经济有效的解决方案

-无需重新校准离轴测量,自动对焦,易于校准和多种应用

-几种不同的波长(默认为RGB + IR),在几个方位角处测量

-全自动测量过程


Phasics MTF测量仪可测的参数

-轴上和轴外MTF,通过焦点MTF

-传输的波前错误,Zernike多项式

-镜头参数:EFLF#,OPD在镜头出口瞳孔

-散光,图像失真,场曲率

-相对照度曲线


Phasics MTF测量仪的具体参数:

参数

参数值

光学设置

有限到无限配置

波长范围

400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm

入瞳直径

Up to 8.8 mm

F#

> 1.8 mm

Flange焦距

8 to 30 mm

焦距范围

5 to 500 mm

视场角

Up to ±120°

MTF on-axis

准确性 <1%* - 重复性 <0.5%*

MTF off-axis

准确性 <2%** -重复性 <1%**

MTF 精确度

LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02

MTF 重复性

LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01

失真

准确性 <0.5% - 重复性 <0.05%

场曲率

准确性 <5µm - 重复性 <1µm

OPD(光程差)轴上

准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS


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