Phasics MTF测量仪可提供最完整的透镜特性：包括轴上和离轴的MTF以及多种波长的波前误差。受益于Phasics的专利技术，光学函数测量仪即使在大视野下也能提供准确的结果。MTF测量仪非常适合在设计，原型制作或生产阶段测量少量镜片。
所属品牌： Phasics
Phasics创新的解决方案可提供最完整的透镜特性：包括轴上和离轴的MTF以及多种波长的波前误差。 它受益于Phasics的专利技术，即使在大视野下也能提供准确的结果。Kaleo MTF仪器非常适合在设计，原型制作或生产阶段测量少量镜片。 生产操作员可以通过简单的逐步操作程序来使用它，也可以由研发工程师使用它来访问更多功能和设置。 一次采集即可提供全面的特性描述！
Kaleo Bench-iR介绍：
Phasics借助Kaleo Bench-iR系列掀起了红外光学质量控制领域的革命。 这些创新的工作台可在一口快速采集中同时提供MTF和波前质量（像差，WFE）。 它们涵盖了从1.2 µm至14 µm的整个iR范围。 其独特的专利技术具有无与伦比的高分辨率和灵敏度，可确保准确表征，同时简化设置和调整。
Kaleo Bench-iR特点和功能：
-沿任何方向
-任何瞳孔大小
-轴上和轴外
-高达截止频率
-各种对焦方法
-EFL，F#，NA
-畸变
-相位图的实时过滤
-色差
-任何瞳孔大小的TF MTF
-与设计比较
Kaleo MTF离轴透镜测试平台可在多个波长下执行自动离轴MTF和波前误差测量。 它还通过聚焦MTF，畸变，EFL等方式来测量像差（泽尼克系数）。依据镜头的出瞳参数，精确计算并测量透镜的离轴参数。 该工作台利用Phasics提供的最完整的质量控制技术，具有易用性和多功能性。
Kaleo MTF 离轴透镜测试平台特点
-400至1100nm的6个波长
-在不同的方位角的测试
-完全自动化
Kaleo-i MTF测量仪介绍：
Kaleo-i MTF测量仪可以表征人工晶状体的光学质量。 它满足生产线中符合ISO标准的测量要求。 它测量单焦点和多焦点人工晶状体（IOL和MIOL）的MTF和屈光度。 利用PHASICS专利的波前传感器，可以从像差图推导出IOL和MIOL设计的深入特征：功率图，聚焦MTF，方位角（2D）MTF，表面检查。 在潮湿和干燥条件下，只需要一种仪器即可控制单焦点和多焦点镜片的质量。几秒钟内，即可确定大多数IOL参数（包括屈光度数，屈光度，MTF）。 测量结果高度可重复且准确。
Kaleo-i MTF测量仪的特点：
-符合ISO 11979-2标准的电源和MTF上通过/失败显示
-单个镜头和批次自动报告
-专用试管和模型眼
-快速的计算机辅助对准（仅对中）
Phasics MTF测量仪产品介绍：
Phasics可提供最完整的透镜特性测试方案：离轴MTF和多种波长的波前误差。得益于Phasics专利技术，即使在大视野（FoV）时也可以提供准确的结果。Kaleo MTF测试仪非常适合测量少量物镜。操作员或研发工程师可以使用它来验证设计和原型阶段。 光学传递函数测量仪可通过一次采集即可提供完整的测试参数输出。
市场：汽车行业| ADAS | 监视和安全| 无人机| 移动电话
Phasics MTF测量仪的特点：
-单次测量，MTF测量高达截止频率，精度类似于干涉测量法
-高品质的准直光源，经济有效的解决方案
-无需重新校准离轴测量，自动对焦，易于校准和多种应用
-几种不同的波长（默认为RGB + IR），在几个方位角处测量
-全自动测量过程
Phasics MTF测量仪可测的参数
-轴上和轴外MTF，通过焦点MTF
-传输的波前错误，Zernike多项式
-镜头参数：EFL，F＃，OPD在镜头出口瞳孔
-散光，图像失真，场曲率
-相对照度曲线
Phasics MTF测量仪的具体参数：
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参数 |
参数值 |
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光学设置 |
有限到无限配置 |
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波长范围 |
400-1100 nm / 900-1700 nm / 3-5µm / 8-14µm |
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入瞳直径 |
Up to 8.8 mm |
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F# |
> 1.8 mm |
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Flange焦距 |
8 to 30 mm |
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焦距范围 |
5 to 500 mm |
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视场角 |
Up to ±120° |
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MTF on-axis |
准确性 <1%* - 重复性 <0.5%* |
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MTF off-axis |
准确性 <2%** -重复性 <1%** |
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MTF 精确度 |
LWIR ±0.02 / MWIR ±0.03 / SWIR ±0.01 / Visible ±0.02 |
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MTF 重复性 |
LWIR & MWIR ±0.015 SWIR & Visible ±0.01 |
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失真 |
准确性 <0.5% - 重复性 <0.05% |
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场曲率 |
准确性 <5µm - 重复性 <1µm |
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OPD（光程差）轴上 |
准确性 20 nm RMS -重复性<5 nm RMS |
SID4 DWIR中红外波前分析仪
PHASICS提供的SID4 DWIR中远红外波段波前测量方案，应用波段范围为3-5μm和8-14μm，拥有10.08 × 8.16 mm的大面积靶面尺寸，68 μm 像素大小，160 × 120 相位分辨率，50fps超快采样率，实时全分辨尺寸采样率最高可达10fps，可接受的最大直接入射NA大约为0.2。
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短波红外波前传感器SID4 SWIR HR
短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域，可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据
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SID4 HR波前传感器
SID4 HR波前分析仪，能够覆盖400-1100 nm的检测波段，具有超高的相位采样分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 um PV）。为波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）的测量提供了全新的方案。
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SID4紫外高分辨率波前像差仪
基于Phasics独特的SID4四波横向剪切干涉技术所开发的专利技术，紫外高分辨率波前分析仪设备可覆盖190-400 nm紫外检测波段，在紫外线光谱中提供了无与伦比的高分辨率（355x280测量点）和非常高的灵敏度（1 nm RMS）。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前探测、分析提供了全新方案。
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