激光光束采样器

以色列DUMA为检测大功率激光的需求提供了激光光束采样器，这款采样器可以与大功率光束分析仪完美匹配，进行高达4KW激光功率的实现测量。为高功率光束分析仪特别设计的风冷采样器采样率可达到1.1×10-5，DUMA的采样器配合多种CMOS传感器以及刀口式检测探头（机械式），无论是连续激光还是脉冲激光，都可以实现精准测量。

所属品牌：

产品介绍

我司为用户提供两种系列光束质量分析仪，LAM和M2-Beam，其中LAM可用于检测工作面上的聚焦激光，其检测原理为刀口式测量原理，仅可检测连续激光（CW），M2-Beam的普通型号同样采取刀口式测量原理。当然，为了满足用户对于脉冲激光（Pulsed）的检测需求，我们也提供CMOS传感器版本（-U3型号）。

以色列DUMA公司近期研制出一款风冷采样器，通过压缩空气降温的原理来实现冷却。该采样器可以提供1.1×10^-5的采样效率，相比于衰减片（ND）而言，效率更高，且适用于多种场合。该采样器可以与现有光束质量分析仪相匹配，出厂即完成装配，可以满足用户对于高功率激光的检测，对于连续激光，最高可承受4KW的功率。

大功率激光光束质量的测量一直是激光行业的一个难点和痛点。无论是CMOS/CCD传感器还是刀口式检测原理，都无法承受大功率激光的直接接收，因为CMOS传感器或者CCD传感器的灵敏度都很高，仅可以承受到微瓦到毫瓦的功率范围，这使得大功率激光无法实现直接检测，这会导致因激光功率过高而直接损坏传感器，哪怕使用衰减片（ND）仍无法满足，甚至需要配合多个衰减片进行一个整体组合后才可使用，这会使得激光整体模式受到不可估计的影响。

以上机型均可安装风冷采样器，SAM-HP-M。需要注意的是，在测量大功率激光时，连续曝光时间不能超过5s。并且高功率机型出厂后，风冷采样器处于已装配状态，原则上讲我们不提倡用户将其拆卸，因为其中涉及到接收对准和安装工艺问题，这会导致拆卸后无法安装的问题存在，基于更小的灵敏度，仪器哪怕装载了风冷采样器，对于小功率激光仍具备一定的探测能力。

M2-Beam 大功率光束分析仪产品规格：

-输入光束

	M2Beam	M2Beam U3
技术工艺	刀口式扫描原理，应用Si探测器，InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器	USB 3.0接口 CMOS 2.4MP 内置过滤论
光谱响应（nm）	SI传感器：350-1100 InGaAs传感器：800-1800 Enhanced InGaAs 传感器：800-2700	VIS-NIR：350-1600 UV-NIR：220-1350
激光功率范围	Si：100 μW-1 W（带衰减片） InGaAs&UV：100 μW-5 mW HP：4 kW以下	10μW-100mW，内置滤光轮 HP：4 kW以下
刀口数	7	—
光束尺寸	带透镜高达25mm直径（Si&UV版本）
束腰到透镜距离	2.0~2.5米最佳最小2米

-扫描装配附件

材质	铝
透镜焦距	300mm（在632.6nm时）
透镜直径	25mm
扫描次数	140
最小步进尺寸	100μm
扫描长度	280mm

-整机

重量	2.5kg
尺寸	100×173×415 mm
托架	M6或1/4“固定
机械调整	水平角：±1.5° 垂直角：±1.5°
电缆长度	2.5m

LAM大功率激光光束质量分析仪产品规格参数：

	LAM-BA	LAM-U3
传感器类型	硅基，使用刀口法测量技术	CMOS
刀口数	7	-
光谱范围：	硅：350-1100nm	350-1310nm
功率范围@900/1070 nm	最高4KW（需要衰减片和高压空气风冷，可能会有一些限制）	连续激光1-2500W，脉冲激光1-1000W
光斑尺寸范围	35微米至8毫米	75微米-6毫米
分辨率（H × V像素）	根据光束大小自适应	1920 ×1200
传感器有效尺寸	9 × 9	11.34 × 7.13
工作距离	49mm	从输入表面到传感器的光学距离为40.7±0.2毫米
最高BPP	最大输入角度-25deg	最大输入角度-25deg
最大功率密度	1,000,000 W/cm2	1,000,000 W/cm2
光束宽度精度	± 1.5 ％	± 1.5 ％
功率精度	± 5 ％	± 5 ％
工作温度	0℃-35℃	0℃-35℃

大功率光束分析仪的核心部件——风冷采样器规格参数：

型号	SAM3-HP
光谱范围	250-2000nm
采样系数	1.1×10-5
外型尺寸	40 mm dia. × 31 mm length
通光孔径	8 × 8 mm
从输入到采样表面的最小光路	25mm（视具体型号而定）

、

高功率光束分析仪订购型号及描述：

LAM-BA: 7-blades, Si detector with high power attenuator and mounting adapter

LAM-U3: A camera for 350 –1310 nm with motorized built-in filter wheel with high power attenuator and mounting adaptor, a set of interchangeable filters,

M2Beam-Si – measurement device for silicon range (350 – 1100nm)

M2Beam-UV – measurement device for silicon range (190 – 1100nm)

M2Beam-IR – measurement device for silicon range (800 – 1800nm)

M2Beam-U3-VIS-NIR - measurement device for 350-1600 nm CMOS based

M2Beam-UV-NIR – Special – consult factory.

SAM3-HP-M – beam sampler for high power beams

激光光束采样器

焦点光斑检测系统

中远红外光束轮廓仪

狭缝扫描式光束轮廓仪

M2分析仪