透光率测试仪

XP-T-2000系列国产透过率测试仪是一款全波长透过率测试仪，采用透射积分球采光，能够实时快速准确测量各类平面、非平面等材料的绝对透过率，配备了专业软件，操作简便，实时显示，功能强大，适用性广泛。

所属品牌： 中科光学

产品介绍

系统特点：

我们提供的国产透过率测试仪的适用场景十分广泛，在各种场景都可以使用，并且测量迅速，是可以在毫秒级时间内测量全谱信息的全波长透过率测试仪，并且使用的是积分球采光，可以测量待检测样品的绝对透过率，还可设置检测区间，十分方便。

- 快速全谱测量，可在毫秒级时间内测量全谱信息；

- 可以适应不同实验环境，手套箱、实验室、办公室、车间均可以使用；

- 采用积分球采光，消除由样品折射率、散射等因素引起的误差；

- 软件可设置透过率质检区间，自动判断NGOK等等。

技术参数：

仪器型号	XP-T-2000
检测范围	380-1100nm
探测器	Hamamatsu面阵CCD
探测器面积	28.672mm*0.896mm
像元深度	200ke
动态范围	10000:1
透过率平台	光程可调
光斑大小	≥0.6mm
最小测量孔径	>1mm
采光方式	透射积分球
信噪比（全信号）	450:01:00
测量重复性	优于0.2%（400-1000nm）
检出限	0.10%
单次测量时间	<1秒
光源功率	0-100W，可调
操作系统/接口	Windows7/8/10
电源/功率	220V-50Hz/6W
光谱软件	专用透过率光谱软件，允许用户注释图，能在线实时输出数据，反射兼顾输出CIE颜色参数，自定义打印测试报告；
附件	备用灯泡2个

我们提供的XP-T-2000系列国产透过率测试仪是全波长透过率测试仪，使用透射积分球采光，能够快速测量绝对透过率，并且能实时快速准确地测量各类平面、非平面等材料的绝对透过率，还可用于实时显示单、多点波长绝对透过率和数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、太阳膜、滤光片等平面、光学元件及组合镜头等的检测。

我们作为集研发、生产、服务于一体的高科技公司，致力于为全球客户提供高端技术产品和服务，拥有多年光谱快速检测经验，为物理光电、功能材料、化学化工、环境科学、食品科学、生命科学、农学等不同领域提供数以百计的测量方案，尤其在QLED、OLED、PLED、MircoLED、LED、量子点发光材料、荧光粉、光色电测量领域获得了丰富的案例，以准为本，客户思维，科技至上，至诚至坚，合作共赢，建设高效、快速为一体测量解决方案。

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