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透光率测试仪

透光率测试仪

XP-T-2000系列国产透过率测试仪是一款全波长透过率测试仪,采用透射积分球采光,能够实时快速准确测量各类平面、非平面等材料的绝对透过率,配备了专业软件,操作简便,实时显示,功能强大,适用性广泛。

所属品牌: 中科光学

产品介绍

380-1100nm,积分球采光的国产透过率测试仪


系统特点:

我们提供的国产透过率测试仪的适用场景十分广泛,在各种场景都可以使用,并且测量迅速,是可以在毫秒级时间内测量全谱信息的全波长透过率测试仪,并且使用的是积分球采光,可以测量待检测样品的绝对透过率,还可设置检测区间,十分方便。

- 快速全谱测量,可在毫秒级时间内测量全谱信息;

- 可以适应不同实验环境,手套箱、实验室、办公室、车间均可以使用;

- 采用积分球采光,消除由样品折射率、散射等因素引起的误差;

- 软件可设置透过率质检区间,自动判断NGOK等等。


技术参数:

仪器型号

XP-T-2000

检测范围

380-1100nm

探测器

Hamamatsu面阵CCD

探测器面积

28.672mm*0.896mm

像元深度

200ke

动态范围

10000:1

透过率平台

光程可调

光斑大小

≥0.6mm

最小测量孔径

>1mm

采光方式

透射积分球

信噪比(全信号)

450:01:00

测量重复性

优于0.2%(400-1000nm)

检出限

0.10%

单次测量时间

<1

光源功率

0-100W,可调

操作系统/接口

Windows7/8/10

电源/功率

220V-50Hz/6W

光谱软件

专用透过率光谱软件,允许用户注释图,能在线实时输出数据,反射兼顾输出CIE颜色参数,自定义打印测试报告;

附件

备用灯泡2个



我们提供的XP-T-2000系列国产透过率测试仪是全波长透过率测试仪,使用透射积分球采光,能够快速测量绝对透过率,并且能实时快速准确地测量各类平面、非平面等材料的绝对透过率,还可用于实时显示单、多点波长绝对透过率和数据及指定波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、太阳膜、滤光片等平面、光学元件及组合镜头等的检测。



我们作为集研发、生产、服务于一体的高科技公司,致力于为全球客户提供高端技术产品和服务,拥有多年光谱快速检测经验,为物理光电、功能材料、化学化工、环境科学、食品科学、生命科学、农学等不同领域提供数以百计的测量方案,尤其在QLEDOLEDPLEDMircoLEDLED、量子点发光材料、荧光粉、光色电测量领域获得了丰富的案例,以准为本,客户思维,科技至上,至诚至坚,合作共赢,建设高效、快速为一体测量解决方案。


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