SID4 HR波前分析仪，能够覆盖400-1100 nm的检测波段，具有超高的相位采样分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 um PV）。为波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）的测量提供了全新的方案。
所属品牌： Phasics
SID4 HR波前传感器，大相机靶面尺寸，高动态范围分辨率
法国Phasics提供的SID4 HR超高分辨率波前传感器是基于厂家独特的专利技术——四波横向剪切设计而成的，为苛刻的波前分析应用带来了超高的相位采样分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 um PV），并且SID4 HR波前分析仪的结构简单，抗干扰能力强，测量结果稳定。SID4 HR波前传感器的大相机靶面尺寸（9.98 mm x 8.64 mm）和极高的波前灵敏度可以直接测量大发散角的光束，并且不需要添加任何中继光学或准直系统。
SID4 HR波前传感器的规格参数：
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型号 |
SID4 HR |
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波长范围 |
400-1100 nm |
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靶面尺寸 |
9.98 mm x 8.64 mm |
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空间分辨率 |
24 um |
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采样分辨率 |
416 x 360 |
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相位分辨率 |
<2 nm RMS |
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绝对精度 |
20 nm RMS |
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采样速率 |
10 fps |
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实时处理速度（使用配套的SID4软件情况下） |
3 fps（全分辨率情况下） |
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接口类型 |
Giga Ethernet（以太网） |
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尺寸 |
80 x 77.5 x 86.4 mm3 |
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重量 |
~600 g |
SID4 HR超高分辨率波前传感器的主要特点：
- 416 x 360超高相位采样分辨率
- 9.98 mm x 8.64 mm的大面积靶面尺寸
- 可接收最高NA=0.8的高数值孔径发散光束
SID4 HR波前分析仪的主要应用：
- 激光，自适应光学及等离子体检测
- 光学元件及光学系统计量
- 微观材料检测
短波红外波前传感器SID4 SWIR HR
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