短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域，可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据
所属品牌： Phasics
法国Phasics提供的SID4 SWIR HR红外高分辨率波前分析仪集成了InGaAs探测器和Phasics独特的专利技术——四波横向剪切设计而成的。由于SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的超高采样分辨率（160 x 128 phase pixels）和高灵敏度，可以精确的测量900 nm到1.7 μm的波前数据。短波红外波前传感器SID4 SWIR HR是一种创新的设计方案，它的镜头可以应用于光通信，仪器检测，军事或夜视监测等领域。
SID4 SWIR HR波前传感器的规格参数：
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型号 |
SID4 SWIR HR |
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波长范围 |
0.9-1.7 μm |
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靶面尺寸 |
9.60 mm x 7.68 mm |
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采样分辨率 |
60 μm |
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采样分辨率 |
160 x 128 |
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相位分辨率 |
<2 nm RMS |
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绝对精度 |
15 nm RMS |
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采样速率 |
30 fps |
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实时处理速度（使用配套的SID4软件情况下） |
7 fps（全分辨率情况下） |
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接口类型 |
Giga Ethernet（以太网） |
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尺寸 |
100 x 55 x 63 mm3 |
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重量 |
~500 g |
SID4 SWIR HR超高采样分辨率波前传感器的主要特点：
- 覆盖0.9-1.7 μm短波红外波段
- 160 x 128的高相位采样分辨率
- 高感光灵敏度，可适用于低功率红外光源测试
SID4 SWIR HR近红外波前分析仪的主要应用：
- 激光，自适应光学
- 光学元件及光学系统计量
- 等离子体检测
SID4 DWIR中红外波前分析仪
PHASICS提供的SID4 DWIR中远红外波段波前测量方案，应用波段范围为3-5μm和8-14μm，拥有10.08 × 8.16 mm的大面积靶面尺寸，68 μm 像素大小，160 × 120 相位分辨率，50fps超快采样率，实时全分辨尺寸采样率最高可达10fps，可接受的最大直接入射NA大约为0.2。
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SID4 HR波前传感器
SID4 HR波前分析仪，能够覆盖400-1100 nm的检测波段，具有超高的相位采样分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 um PV）。为波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）的测量提供了全新的方案。
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SID4紫外高分辨率波前像差仪
基于Phasics独特的SID4四波横向剪切干涉技术所开发的专利技术，紫外高分辨率波前分析仪设备可覆盖190-400 nm紫外检测波段，在紫外线光谱中提供了无与伦比的高分辨率（355x280测量点）和非常高的灵敏度（1 nm RMS）。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前探测、分析提供了全新方案。
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Phasics MTF测量仪
Phasics MTF测量仪可提供最完整的透镜特性：包括轴上和离轴的MTF以及多种波长的波前误差。受益于Phasics的专利技术，光学函数测量仪即使在大视野下也能提供准确的结果。MTF测量仪非常适合在设计，原型制作或生产阶段测量少量镜片。
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