BeamOn X光斑测量仪

BeamOn X光斑分析仪属于CMOS光斑分析仪，软件通过CMOS成像、处理，显示质心定位、光束轮廓、能量分布，同时经过处理得出光束尺寸、光斑椭圆度的参数值。在光斑光束分析仪中，BeamOn X光斑检测仪分辨率高达643万，是DUMA激光光斑分析仪中具有成本效益的一款设备。

所属品牌： DUMA

产品介绍

BeamOn X光斑分析仪，又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪，是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备，具有良好的成本效益。另外，该设备属于CMOS光斑分析仪，采用全球快门技术，带有1/1.8英寸的检测区域，配套的软件界面友好，使用方便，能实时检测和显示光束轮廓、光斑椭圆度情况。

BeamOn X光斑检测仪产品规格：

型号	BeamOn X
传感器类型	CMOS 尺寸1/1.8英寸
传感器探测面积（mm）	7.4（长）x 5（高）
分辨率（像素数量长 x 高）	3096 x 2080
像素尺寸	2.4 um x 2.4 um
像素位深	10/14 bits
光束宽度分辨率	1微米或者更好
损伤阈值	带衰减片50 W/cm²
灵敏度	激光波长633 nm时，0.5 nW/cm² 激光波长1310 nm时，15000 nW/cm²（15 uW/cm²）
饱和度	不带衰减片1 W/cm²
产品尺寸（长 x 宽 x 高）单位mm	⌀63 mm x 51 mm宽
重量（典型）	带光缆300 g
机械接口	Post mounting：8-32UNC，6 mm宽
运行温度	0 °-35 ℃
定位分辨率	1 um
光束宽度精确度	±2%
动态范围	60 dB
曝光速度（可调节）	32 us-2 s
帧率	50 fps - 高达450 fps @fast mode（8 bit + ROI）
功率测试	在选定的点上进行用户预校准
去除背景噪声	自动
Trigger	内部软件
功率需求	~2 W（通过USB3.0接口）
最低（计算机）硬件要求	CPU i5 1.6 GHz，4 GB内存最低分辨率1366 x 766
接口	USB3.0，Windows 7/8/10（32&64 bit）

BeamOn X光斑测量仪能测量光束直径30 um - 4.5 mm的连续光或脉冲光，定位分辨率高达1 um。光束经由CMOS光斑分析仪系统成像后，软件界面将显示光束轮廓和能量分布，同时还提供质心定位、光斑椭圆度、光束尺寸数值。质心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析仪检测过程中得出，能量分布通过颜色变化情况和能量曲线来辨别。在一定的能量强度的范围内，激光光斑分析仪系统还能测量出光斑椭圆度、长轴、短轴数值。为了保障BeamOn X光斑光束分析仪不因激光功率过高而导致设备故障，激光的功率密度应远低于损伤阈值。

BeamOn X光斑测量仪的特点：

-测量光斑尺寸低至30微米

-CMOS成像

-光斑椭圆度

-准确质心定位，测量光束轮廓和能量分布

-高帧率——50 Hz

-光谱范围——350-1310 nm