近红外全角度透反射测量系统
透反射光谱测量系统采用电控独立双轴设计，配备高精度步进电机，控制发射端和接收端的角度测量，角分辨率达0.001°，重复精度达0.05°。光谱范围覆盖900-2500nm，通过软件控制发射端和接收端的角度，实现快速的光谱测量，可用于透射/反射/散射/荧光/辐射等多种全角度模式的光谱测量。
查看详细
透光率测试仪
XP-T-2000系列国产透过率测试仪是一款全波长透过率测试仪，采用透射积分球采光，能够实时快速准确测量各类平面、非平面等材料的绝对透过率，配备了专业软件，操作简便，实时显示，功能强大，适用性广泛。
查看详细
