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SID4紫外高分辨率波前像差仪

SID4紫外高分辨率波前像差仪

SID4紫外高分辨率波前像差仪

基于Phasics独特的SID4四波横向剪切干涉技术所开发的专利技术,紫外高分辨率波前分析仪设备可覆盖190-400 nm紫外检测波段,在紫外线光谱中提供了无与伦比的高分辨率(355x280测量点)和非常高的灵敏度(1 nm RMS)。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前探测、分析提供了全新方案。

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Lateral Offset Device横向偏移装置

Lateral Offset Device横向偏移装置

Lateral Offset Device横向偏移装置

Lateral Offset Device横向偏移装置用于完全消除两条光学瞄准线之间的偏移,完全保留了原始视线之间的平行性,标准+/- 3 arc sec,单片设计,LOD安装在一个同心双轴旋转装置上,能够沿着纵向和横向旋转 它为两条平行的点之间的偏移抵消提供了完美的解决方案。

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激光功率仪

激光功率仪

激光功率仪

海纳光学提供带有空气冷却的激光功率计。激光功率计又名激光功率传感器、激光计 这些产品可用于激光制造商,激光系统制造商和激光实验室。 激光功率传感器的范围从10W到500W。 我们的激光功率计还可以用作能量计,它可以以1Hz的单次能量进行测量。

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高分辨率光束质量分析仪

高分辨率光束质量分析仪

高分辨率光束质量分析仪

Dataray最新推出的高分辨率光束质量分析仪适用于通讯波段的激光检测应用,主要针对1550nm光束的检测进行优化。波段范围400-1700nm,配置全局快门,信噪比大于2100:1,像素大小为15μm,最小可检测光束直径为0.15mm(10个单位像素成像),具有极高的分辨率,适用于小光束尺寸的测量需求,设备采用的量子点探测器使得WinCamD-QD-1550具有高灵敏度,而全局快门使其可用于脉冲激光。

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中远红外光束轮廓仪

中远红外光束轮廓仪

中远红外光束轮廓仪

WinCamD‐FIR2‐16‐HR和WinCamD-IR-BB这两款主要是探测2um-16um波长范围内的中远红外光束轮廓仪。 DataRay提供远红外光斑分析仪和中红外光斑分析仪,型号为WinCamD-LCM-TEL,BladeCam-HR-TEL,WinCamD-UCD12-TEL。这几个型号都带有-TEL,表示属于可探测波长为1480-1605nm范围内波长的红外相机式光束分析仪。

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狭缝扫描式光束轮廓仪

狭缝扫描式光束轮廓仪

狭缝扫描式光束轮廓仪

狭缝扫描式光束轮廓仪与传统的光斑截面分析仪的最大区别是,无需繁复的移动仪器便可以实时精准的得到激光的激光轮廓分布,激光质心,实时M2,指向,发散角和焦点位置和激光对准的测量。BeamMap2拥有Beam'R2所没有的功能,如实时M2,指向,发散角和焦点位置的测量的功能是只有BeamMap2具备的。本文主要介绍DataRay狭缝扫描式光束品质分析仪Beam'R2和BeamMap2。

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WinCamD系列光束分析仪

WinCamD系列光束分析仪

WinCamD系列光束分析仪

本文主要介绍WinCamD系列光束分析仪的重要参数,使用的传感器芯片类型,像素分辨率,有效传感区的大小等的参数对比,同时为了方便您的选型我们专门介绍了WinCamD系列产品的命名规则,主要的应用和可测得的参数。美国DataRay公司是一家著名的生产光斑质量分析仪、相机式光束分析仪的厂商,属于业界中的一流品牌

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多光束光束分析仪

多光束光束分析仪

多光束光束分析仪

本文主要介绍BladeCam相机式光束分析仪,其像素尺寸仅为3.2μm,具有高分辨率和高度紧凑的特点,适用于小光束的光斑分析,BladeCam光束分析仪的厚度仅为0.65英寸(16.5毫米),可插入紧凑的光学系统和OEM应用中。 美国DataRay公司是一家著名的生产光斑质量分析仪,相机式光束分析仪的生产制造商。

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大光斑测量仪

大光斑测量仪

大光斑测量仪

TaperCamD-LCM各项参数来看都优于其他的两款型号。此外,对于不同的波长,他们都有相对应的子系列可供选择。TaperCamD-LCM大光斑测量仪的特点是拥有高达25*25mm的感光区域和12.5um像素尺寸。本文主要介绍DataRay大光斑测量仪TaperCam的型号:TaperCamD‐UCD12,TaperCamD-LCM和TaperCamD20‐15‐UCD23。

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激光发散角检测仪

激光发散角检测仪

激光发散角检测仪

激光发散角检测仪的型号为VIS-LAT,特点是极其精确和宽波段范围,分辨率低至1μrad,精度为10μrad,波长范围350-1600 nm,自带的软件能清楚地显示测量结果,适用于对要求较高的光学应用。其结构为自准直仪和准直望远镜系统相结合,是一款能实现测量激光的入射角度和发散角,还能监测激光光束轮廓、功率和角度位置的激光分析望远镜。

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高精度自准直仪

高精度自准直仪

高精度自准直仪

高精度自准直仪是一款结合了自准直仪和准直望远镜系统的高精度自准直仪。相比于标准的自准直仪,lectronic Autocollimator HR的特点是精度高达0.1 sec,且在视场参数上,自动准直器:20’(H)(1200 sec of arc),望远镜:40’(H)(2400 sec of arc)也远精确于标准的自准直仪。搭配入射孔径62mm的大口径,使EAC-HR适用于更精确,要求更高的准直应用和光学方案中。

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电子自动准直仪

电子自动准直仪

电子自动准直仪

DUMA公司的电子自动准直仪其强大的调节功能,十分适合用于各类光学装置和激光准直的应用中。电子自动准直仪的作用是监控记录光学装置的定位和角度,且精确快速的自动准直和较准对齐功能。目前分为3种型号:EAC-1012标准版电子自动准直仪,EAC-HR高精度款电子自动准直仪,EAC-1012-L带激光分析的电子自动准直仪。

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激光角度仪

激光角度仪

激光角度仪

激光角度仪适合的波长范围都在350-1100nm之间。分为Alignmeter USB(尺寸9mm)系列和大口径光圈版本的Alignmeter LA(尺寸22.5mm)系列。是全世界仅有的能同时测量激光位置和入射角度的仪器。其中Alignmeter LA仅能测连续激光,Alignmeter激光准直仪能实时测量显示激光束的功率(μW精度)、位置(µm精度)、角度(mRAD精度)

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激光光束采样器

激光光束采样器

激光光束采样器

以色列DUMA为检测大功率激光的需求提供了激光光束采样器,这款采样器可以与大功率光束分析仪完美匹配,进行高达4KW激光功率的实现测量。为高功率光束分析仪特别设计的风冷采样器采样率可达到1.1×10-5,DUMA的采样器配合多种CMOS传感器以及刀口式检测探头(机械式),无论是连续激光还是脉冲激光,都可以实现精准测量。

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M2分析仪

M2分析仪

M2分析仪

M2分析仪整体可以实现220-2700nm波段的覆盖,其中脉冲激光可实现220-1600nm的波段覆盖。M2因子检测、准确度保持在±5%。采用刀口式分析的原理,可以实现连续激光(CW)的测量,特殊版本使用CMOS传感器实现脉冲激光的检测,可配置风冷采样器,实现高功率激光的测量,功率强度提升至4KW,同时实现25mm光束尺寸的接收。主要满足用户对光束质量,束腰位置,束腰直径,发散角,瑞利长度,腰部对称性以及像散的分析,同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能,包含Excel,World或文本格式导出,方便用户对检测数据进行二次处理。

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激光指向稳定测量系统

激光指向稳定测量系统

激光指向稳定测量系统

Anglemeter激光指向稳定测量系统也称为激光漂移测量仪。激光指向稳定测量系统的PSD传感器可选4mm和9mm两种规格,其角度分辨率高达1µRad,角度精度好于0.5%。AngleMeter是一系列评估连续或脉冲激光激光指向是否稳定的测量仪器,它用大口径的传感镜头监测激光的入射角度,能够实时测量并记录一段时间内的激光角度偏移和绝对功率值。

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位置敏感探测器

位置敏感探测器

位置敏感探测器

海纳光学提供的PSD位置测量系统,包含位敏探测器,PSD读取器(可选),配套软件。PSD位敏探测系统尺寸小巧,软件功能丰富,可实时显示光束位置测量坐标及功率变化,通过USB连接,方便集成与二次开发。激光位置探测器主要用于各种对位置准确性要求特别高的场合,例如位置的精确移动,平台振动的检测等。激光位置探测器又称为激光位置敏感探测器或PSD位置敏感探测器。

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激光波长计

激光波长计

激光波长计

无论是染料激光器,单频或稳频激光器,还是掺Yb、掺Er、掺Nd激光器的激光测试,都可以选用SHR,SHR-IR激光波长计。Solarlaser公司的SHR,SHR-IR激光波长计的特点是高精度,高分辨率和大波长范围。其型号为SHR(190-1100nm)和SHR-IR(600-1800nm),它能够快速准确的测量连续或脉冲激光器的波长,又称为高分辨率光谱仪。

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高分辨率定量相位成像相机

高分辨率定量相位成像相机

高分辨率定量相位成像相机

Phasics提供不同的高分辨率定量相位成像相机,Phasics定量相位成像相机的型号包括SID4 Element,SID4Bio和SID4-sC8。其中SID4 Element是一款智能的附加组件来为客户的相机提供独特的相位成像技术,从而构建为定量相位成像相机,而SID4Bio是一款用于定量相位显微镜的创新相机产品,它能提供单细胞水平的高对比度,并且无需标记,SID4-sC8则是一款专为生命科学和材料检验显微镜设计的定量相位成像相机,其结构紧凑,即插即用,能够实现快速,准确和真正的定量相位测量。

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大口径激光分析检测仪

大口径激光分析检测仪

大口径激光分析检测仪

大口径激光分析检测仪具有具有较高的灵敏度,在波长为633nm 时为0.1µW/cm²,同时它较宽的波长响应范围,350-1310nm ,BeamOn-LA大光束激光分析检测仪的重要特点是具有一个大面积的探测器,能够满足大光斑测量的需求,同时它具有较高的帧率也更利于实时监测和数据统计,最大可测量58x45mm的光斑激光。

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波前分析仪

波前分析仪

波前分析仪

Phasics波前分析仪以其无与伦比的高分辨率以及易用性在众多厂商中脱颖而出,由于Phasics的波前分析仪的应用领域涵盖了光束测试,自适应光学和等离子体表征。在高功率激光仪器中需要使用波前传感器的工程师和研究人员,Phasics的波前传感器能够为他们提供全面的服务。通过Phasics公司的独家技术:四波横向剪切干涉法,能够有效克服夏克-哈特曼波前探测器的局限性,尤其是该探测器的分辨率低的问题。Phasics波前分析仪具有超高的分辨率,能够实现精确的波前测量,从而可靠地计算光束参量。

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聚焦脉冲激光检测仪

聚焦脉冲激光检测仪

聚焦脉冲激光检测仪

德国degger-tools公司的德国degger-tools公司的聚焦光斑检测设备主要适用于1030/1064nm,515/532nm,343/355nm的超短脉冲激光。超短脉冲激光测量仪(FBP)可以实现5μm到100μm光斑尺寸的测量,功率可接受50mW到500mW的范围,可以配置相应的衰减片,实现更高功率的检测。

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超短脉冲激光探测仪

超短脉冲激光探测仪

超短脉冲激光探测仪

对于1030/1064nm,515/532nm,343/355nm三种主要波长的超短脉冲探测,一直是激光加工或光学设计的难点,海纳光学为用户提供一款由德国degger-tools生产的Beam Profile Camera相机式光斑分析仪,可以实现精准检测,如纳秒,皮秒,飞秒脉冲激光的激光光束检测,入射光斑尺寸可以接受1mm - 7.5mm,同时可以接受50mW - 500mW的激光功率输入,为客户对于超短脉冲激光的光束分析及激光检测提供了高精度的解决方案。

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刀口式激光分析检测仪

刀口式激光分析检测仪

刀口式激光分析检测仪

刀口式激光分析检测仪采用刀口式分析的原理,该原理无法实现脉冲激光的捕捉。其运用多种探测器材质,可检测UV波段到2700nm的光谱范围,有效探测面积为3mm至10mm,可检测光束尺寸最小为2μm,具备高达0.1μm分辨率。但可以满足检测连续激光(CW)的需求,配置采样器,实现大功率激光的测量。主要满足用户对激光光束轮廓,光束位置和功率的分析,同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能,包含Excel,World或文本格式导出,方便用户对检测数据进行二次处理。

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光束分析仪

光束分析仪

光束分析仪

激光光束分析仪用于光斑质量的简易分析,以色列DUMA 的LAM U3光束分析仪采用CMOS传感器以及内置风冷采样器设计,可安装在工作平面上进行高功率激光光束分析,对于聚焦光束仍可实现检测,其配套软件支持沿机器Z轴上的M平方因子测量和焦深计算

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Phasics MTF测量仪

Phasics MTF测量仪

Phasics MTF测量仪

Phasics MTF测量仪可提供最完整的透镜特性:包括轴上和离轴的MTF以及多种波长的波前误差。受益于Phasics的专利技术,光学函数测量仪即使在大视野下也能提供准确的结果。MTF测量仪非常适合在设计,原型制作或生产阶段测量少量镜片。

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高分辨率光束分析仪

高分辨率光束分析仪

高分辨率光束分析仪

高分辨率光束分析仪灵敏度为5nW/cm2-60µW/mm2。该设备具有12位动态范围,可检测连续和脉冲激光光斑的位置、功率、高斯拟合、光强分布。高清晰度激光探测器具备更小的像素尺寸以及更多的像元数量,该设备的的CCD探测器有2种配置,一种是红外专用的1550nmCCD探测器,另一种是针对波长范围350-1310nm。

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微米光束分析仪

微米光束分析仪

微米光束分析仪

uBeam光束分析仪以用于实时测量和显示亚微米范围的连续或脉冲激光、光纤以及激光二极管的光束轮廓,主要是聚焦光斑,配合10倍到100倍物镜放大,实际像素可以变成0.4μm到0.04μm,可以测量小至0.5um的光束。因此也称为聚焦光斑测试仪。属于CCD型光束分析仪,其CCD面积3.2x2.4mm,波长范围350~1310nm,像素~4x4μm

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BeamOn 光束分析仪

BeamOn 光束分析仪

BeamOn 光束分析仪

以色列DUMA生产的Beamon光束分析仪主要满足用户对激光光斑轮廓,光斑位置,光斑大小,光斑能量分布以及质心位置的分析,同时具备2D/3D建模以及数据导出的功能,包含Excel,World或文本格式导出,方便用户对检测数据进行二次处理。分为三种类型:CCD传感器光斑分析仪,CMOS传感器光斑分析仪以及运用刀口式分析(机械式)的光斑分析仪,可以实现检测连续激光(CW)或脉冲激光(Plused)的需求。BeamOn 光束分析仪波长范围覆盖190~1600nm,像素最小达到4.65x4.65μm,探测器面积最大可达58x45mm。

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光束轮廓仪

光束轮廓仪

光束轮廓仪

BeamWave系列光束质量分析仪设备的通用性强,连续和脉冲光束都能测量,十分适合客户用于各类激光参数研究。同时BeamWave光束质量分析仪(M2仪,激光轮廓仪)还可以检测波前传感曲线,并具有高分辨率、测量速度快、测量功能更全面,无需繁琐的导轨等优点,仅需一台BeamWave即可测量所有的激光光束参数。包括光束发散角,光斑位置大小,三维能量分布,波前能量、相位分布,波前曲率半径等。

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BeamOn U3光束分析仪

BeamOn U3光束分析仪

BeamOn U3光束分析仪

BeamOn U3适合多种用途。测量范围包括:光束宽度、光斑的形状、位置、功率、强度分布,软件还提供了报表功能,还可以测量激光的光束质量,M2值。是最新一代的光束轮廓诊断设备,其最大的特点是大口径、高分辨率、宽光谱,也称为CCD型光斑分析仪,激光测量仪。它的探测器CCD面积11x7mm(分辨率1920x1200),像素5.86x5.86μm,两百万像素宽光谱探测器,具有12位动态范围和350-1600 nm的光谱响应,附件齐全,具备与其匹配的运行程序。

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